- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayage; applications des techniques de sonde à balayage, p.ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 60/00 - Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM [Scanning-Probe Microscopy] ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
Détention brevets de la classe G01Q 60/00
Brevets de cette classe: 56
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Bruker Nano, Inc. | 334 |
4 |
| International Business Machines Corporation | 60644 |
3 |
| JPK Instruments AG | 22 |
3 |
| Tiptek, LLC | 4 |
3 |
| The Regents of the University of California | 18943 |
2 |
| CAMECA | 13 |
2 |
| DCG Systems, Inc. | 68 |
2 |
| The University of Melbourne | 499 |
2 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 131630 |
1 |
| Wisconsin Alumni Research Foundation | 3774 |
1 |
| Shimadzu Corporation | 5791 |
1 |
| National Institute of Advanced Industrial Science and Technology | 3677 |
1 |
| Korea Advanced Institute of Science and Technology | 3906 |
1 |
| Bruker Nano GmbH | 63 |
1 |
| Chungbuk National University Industry-Academic Cooperation Foundation | 205 |
1 |
| Cnrs | 106 |
1 |
| EMX International, LLC | 2 |
1 |
| Femtonics Kft. | 48 |
1 |
| Fudan University | 585 |
1 |
| Imago Scientific Instruments Corporation | 18 |
1 |
| Autres propriétaires | 23 |